Posts

Showing posts with the label MLC/SLC PE Cycle

NFA100 NAND flash Test System (tester)

Image
NFA100 is able to test up to 128PCs of NAND Flash at the same time. Besides all functions that NFA100-E has, NFA100 is equipped with high-low temperature chamber so that users are able to make high-low temp. cycle test, humidity and thermal shock test. NFA100 is also equipped with mechanical arm for automated loading or unloading of NAND Flash. It can repack the memory chips after performing the necessary tests, which avoids affection caused by manual work or ESD. NFA100 supports automated save of all test results, which can be remotedly tracked and reviewed. With NFA100 users are able to grade NAND Flashes according to various demand on reliability. For remote Demo or stechnical manual please contact may@renice-tech.com.

Система NFA100 NAND флэш-Test (тестер)

NFA100 способен тестировать до 128pcs в NAND Flash в то же время. Помимо всех функций, которые NFA100-E имеет, NFA100 оснащен высокой низкотемпературной камеры, так что пользователи могут делать высококачественные низкий темп. цикл испытаний, влажность и испытание теплового шока. NFA100 также оснащен манипулятором для автоматической загрузки или выгрузки NAND Flash. Он может переупакуем микросхемы памяти после выполнения необходимых тестов, что позволяет избежать привязанности, вызванные ручной работы или ОУР. NFA100 поддерживает автоматическую сохранения всех результатов испытаний, которые могут быть remotedly сопровождаемых и рассмотрены. С NFA100 пользователи могут класса NAND Flashes по разным спросом на надежности. Для удаленного Demo или stechnical руководства, пожалуйста, свяжитесь с may@renice-tech.com.